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H2816A+/TH2816B+ 精密LCR測(cè)試儀
H2816A+/TH2816B+ 精密LCR測(cè)試儀,測(cè)試頻率:50Hz-200kHz,分辨率:12000點(diǎn),0.02%精度(TH2816A+/TH2816B+)6位讀數(shù),最快速度約60 次/秒。
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TH2817C+ LCR數(shù)字電橋/濾波器平衡測(cè)試儀
TH2817C+ LCR數(shù)字電橋/濾波器平衡測(cè)試儀介紹: TH2817C+ 濾波器平衡測(cè)試儀/LCR數(shù)字電橋測(cè)試 4.3英寸TFT液晶顯示。中英文可選操作界面。50Hz-100kHz,分辨率:11頻點(diǎn),基本精度:0.1%,測(cè)試速度:最快19ms。
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TH2829系列自動(dòng)元件分析儀
TH2829系列自動(dòng)元件分析儀應(yīng)用高速處理器和新的軟件系統(tǒng),使其擁有更高的測(cè)試速度、更全面的分析功能和友好的人機(jī)交互體驗(yàn)。精心設(shè)計(jì)的測(cè)量電路和優(yōu)化的算法,進(jìn)一步提升了低D值電容和高Q值電感的測(cè)試穩(wěn)定性。
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TH2827A /TH2827C精密LCR測(cè)試儀
TH2827A /TH2827C精密LCR測(cè)試儀體積小,緊湊便攜,便于上架使用。本系列儀器基本精度為0.05%,測(cè)試頻率最高1MHz及10mHz的分辨率,4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面,操作方便簡(jiǎn)潔。集成了變壓器測(cè)試功能,提高了測(cè)試效率。儀器提供了豐富的接口,能滿足自動(dòng)分選測(cè)試,數(shù)據(jù)傳輸和保存的各種要求。
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TH2836 高頻LCR測(cè)試儀
TH2836 高頻LCR測(cè)試儀是采用的自動(dòng)平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測(cè)試儀器,其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、4Hz-8.5MHz的頻率范圍。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
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TH2840B 精密LCR數(shù)字電橋/LCR測(cè)試儀
TH2840B 精密LCR數(shù)字電橋/LCR測(cè)試儀 10.1寸觸摸屏、1280*800分辨率,Linux系統(tǒng)、中英文操作界面,支持鍵盤、鼠標(biāo)、LAN接口,帶來的是無以倫比的操作便捷性。大屏幕帶來更多的好處是,可以把4個(gè)測(cè)試參數(shù)及分選參數(shù)、分選結(jié)果、功能選擇等參數(shù)放置在同一屏幕,而且看起來絕不擁擠和雜亂,同時(shí)可以顯示四種測(cè)量參數(shù),四種測(cè)量參數(shù)任意可調(diào)。
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TH2838精密LCR測(cè)試儀/LCR電橋表
TH2838精密LCR測(cè)試儀/LCR電橋表其0.05%的基本精度、最快達(dá)5.6ms的測(cè)試速度、20Hz-2MHz的頻率范圍及高達(dá)1GΩ的阻抗測(cè)試范圍可以滿足元件與材料的測(cè)量要求,特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測(cè)量。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響,將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
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日本NF 高精度LCR測(cè)試儀
日本NF 高精度LCR測(cè)試儀介紹: ZM2376高精度LCR測(cè)試儀測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的。實(shí)現(xiàn)快速、高精度的穩(wěn)定測(cè)量,而且快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量,可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途。
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固緯LCR-8220/LCR-8230 LCR測(cè)試儀
固緯LCR-8220/LCR-8230 LCR測(cè)試儀基本準(zhǔn)確度 : 0.08%,較快測(cè)試速度2.5ms,輸出阻抗:25Ω/100Ω,提供DCR量測(cè)及內(nèi)部直流偏壓(±12Vdc),儀表模式、多步列表模式、掃描模式.
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LCR-8205/LCR-8210 LCR測(cè)試儀
LCR-8205/LCR-8210 LCR測(cè)試儀基本準(zhǔn)確度 : 0.08%,較快測(cè)試速度2.5ms,輸出阻抗:25Ω/100Ω,提供DCR量測(cè)及內(nèi)部直流偏壓(±12Vdc),儀表模式、多步列表模式、掃描模式.增加了電壓,電流監(jiān)控,直流電阻測(cè)試,ALC功能,輸入阻抗切換等功能。
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日本NF ZM2372高精度LCR測(cè)試儀
日本NF ZM2372高精度LCR測(cè)試儀1 mHz~100 kHz,高速測(cè)量快2ms,基本精度0.08%,分辨率Z高6位數(shù)。測(cè)量時(shí)間可切換為RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5檔。如果設(shè)定為RAP,則能夠進(jìn)行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速測(cè)量,有助于縮短生產(chǎn)線、檢查線中檢查/篩選零部件的時(shí)間。
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日本NF ZM2371高精度LCR測(cè)試儀
日本NF ZM2371高精度LCR測(cè)試儀1 mHz~100 kHz,高速測(cè)量快2ms,基本精度0.08%,分辨率Z高6位數(shù)。測(cè)量時(shí)間可切換為RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5檔。如果設(shè)定為RAP,則能夠進(jìn)行2ms(1kHz)、10ms(120Hz)的高速測(cè)量,有助于縮短生產(chǎn)線、檢查線中檢查/篩選零部件的時(shí)間。
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